全自動比表面和孔徑分(fēn)布分(fēn)析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分(fēn)布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分(fēn)布給出更準确測試結果，可升級爲雙站微孔測試功能，适用于對研發、實驗要求*的科研單位和企業用戶。

BSD-660 全自動高通量氣體(tǐ)吸附儀 高性能比表面積及孔徑分(fēn)析儀 産品概述： ◆ 比表面積及介孔，微孔，超微孔分(fēn)析 ◆ 高通量分(fēn)析：最多同時分(fēn)析12個樣品 ◆ 真正全自動：脫氣→測試，全自動切換，無需人爲幹預

勃姆石比表面及孔徑測定儀 比表面積及介孔，微孔，超微孔分(fēn)析 高通量分(fēn)析：最多同時分(fēn)析12個樣品 真正全自動：脫氣→測試，全自動切換，無需人爲幹預 測試範圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大(dà)孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國内，遠銷海外(wài)，獲得多項國内技術,技術。