BSD-PS型氧化鋁孔徑分(fēn)析測試儀，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分(fēn)析站。測試精度高、重現性好。重複性誤差小(xiǎo)于±1.5%。測試範圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大(dà)孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國内，遠銷海外(wài)，獲得多項國内技術,。

BSD-PS型炭黑孔徑分(fēn)析測試儀，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分(fēn)析站。測試精度高、重現性好。重複性誤差小(xiǎo)于±1.5%。測試範圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大(dà)孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國内，遠銷海外(wài)，獲得多項國内技術,。

BSD-PS型炭黑孔徑測試儀，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分(fēn)析站。測試精度高、重現性好。重複性誤差小(xiǎo)于±1.5%。測試範圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大(dà)孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國内，遠銷海外(wài)，獲得多項國内技術,。

BSD-PS型白(bái)炭黑比表面孔徑測試儀，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分(fēn)析站。測試精度高、重現性好。重複性誤差小(xiǎo)于±1.5%。測試範圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大(dà)孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國内，遠銷海外(wài)，獲得多項國内技術,。