比表面和孔徑分(fēn)析方法都有哪些種類？
這些方法包括氣體(tǐ)吸附法、壓汞法、電(diàn)子顯微鏡法（SEM 或 TEM）、小(xiǎo)角 X 光散射（SAXS）
和小(xiǎo)角中(zhōng)子散射（SANS）等。2010 年，美國分(fēn)散技術公司（DT）和美國康塔儀器公司還聯合開(kāi)發
了電(diàn)聲電(diàn)振法，比利時 Occhio 公司開(kāi)發了圖像法大(dà)孔分(fēn)析技術。總體(tǐ)來說，每種方法都在孔徑分(fēn)
析方面有其應用的局限性。
縱觀各種孔徑表征的不同方法，氣體(tǐ)吸附法是zui普遍的方法，因爲其孔徑測量範圍從 0.35nm
到 100nm 以上，涵蓋了全部微孔和介孔，甚至延伸到大(dà)孔。另外(wài)，氣體(tǐ)吸附技術相對于其它方法，
容易操作，成本較低。如果氣體(tǐ)吸附法結合壓汞法，則孔徑分(fēn)析範圍就可以覆蓋從大(dà)約 0.35nm 到
1mm 的範圍。氣體(tǐ)吸附法也是測量所有表面的*方法, 包括不規則的表面和開(kāi)孔内部的面積
