比表面積是單位質量物(wù)質的表面積（㎡/g），它是超細粉體(tǐ)材料，特别是納米粉體(tǐ)材料zui重要的物(wù)性之一(yī)，是用于評價他們的活性、吸附、催化等多種性能的重要物(wù)理屬性。因此在各種超細粉體(tǐ)材料的研究、制造和應用過程中(zhōng)，測定其比表面積是十分(fēn)重要的。随着超細粉體(tǐ)材料和納米材料的迅猛發展，生(shēng)産和應用各種超微氧化鋅、氧化鋁、碳酸鈣、钴酸锂、錳酸锂、碳黑、石墨等幾乎所有粉體(tǐ)材料的領域都需測定産品的比表面積，測定比表面積的儀器已成爲許多研究單位、大(dà)專院校和工(gōng)廠*的重要設備。
測定比表面積的方法繁多，如鄧錫克隆發射法（Densichron Examination）、溴化十六烷基*基铵吸附法（CTAB）、電(diàn)子顯微鏡測定法（Electronic Microscopic Examination）；着色強度法（Tint trength）、氮吸附測定法（NitrogenSurface Area）等。E. M. Nelson 通過各種方法比較認爲低溫氮吸附法是zui可靠、zui有效、zui經典的方法。美國ASTM、ISO 均已列入測試标準（D3037和ISO－4650），我(wǒ)(wǒ)國也把該方法列爲國家标準（GB-10517）， 2003 年又(yòu)列入了納米粉體(tǐ)材料的檢測标準。
氮吸附比表面儀是在氣相色譜原理的基礎上發展而成的。它是以氮氣爲吸附質，以氦氣或氫氣爲載氣,兩種氣體(tǐ)按一(yī)定比例混合，使達到的相對壓力，然後流過粉體(tǐ)材料樣品.當樣品管放(fàng)入液氮（－196℃）保溫杯時，粉體(tǐ)材料對混合氣中(zhōng)的氮氣發生(shēng)物(wù)理吸附，而載氣不被吸附。這時在色譜工(gōng)作站（氣體(tǐ)傳感器系統）出現一(yī)個吸附峰。當将液氮杯移走時粉體(tǐ)樣品重新回到室溫，被吸附的氮氣就脫附出來，在工(gōng)作站上即出現與吸附峰相反的脫附峰。吸附峰或脫附峰的面積大(dà)小(xiǎo)正比于樣品表面吸附的氮氣的多少，也可認爲是正比于粉體(tǐ)樣品的表面積。取一(yī)個标樣，比如已知(zhī)比表面積的粉體(tǐ)材料，或已知(zhī)容積的純氮氣，在工(gōng)作站中(zhōng)得到一(yī)個标樣峰，通過标準峰與待測樣品脫附峰面積的對比，即可以zui終獲得比表面積。
